四探針測(cè)試儀常用于半導(dǎo)體材料研究和器件測(cè)試。半導(dǎo)體材料的電阻率會(huì)影響器件的幾個(gè)關(guān)鍵特性，例如電容、串聯(lián)電阻和閾…

四探針測(cè)試儀最顯著的優(yōu)點(diǎn)之一是它能夠以高精度和準(zhǔn)確度測(cè)量薄層電阻、電阻率和電導(dǎo)率。這在半導(dǎo)體行業(yè)尤為重要，因?yàn)?hellip;

四探針測(cè)試儀在半導(dǎo)體材料測(cè)試中的應(yīng)用非常廣泛，特別是在研究半導(dǎo)體器件中的電學(xué)性質(zhì)方面。例如，四探針測(cè)試儀可以用…